光学测量的条纹分析:理论、算法与应用 = Fringe pattern analysis for optical metrology:theory, algorithms, and applications
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Published: |
西安交通大学出版社
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Publisher Address: | 西安 |
Publication Dates: | 2020 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 249页: 图 ; 26cm |
ISBN: | 978-7-5605-9292-3 |
Index Number: | TB96 |
CLC: | TB96 |
Call Number: | TB96/3120 |
Contents: |
WILEY 本书介绍了现代光学测量技术中有关条纹分析的基本原理、基本方法以及近年来的创新工作。也为实验技术人员提供了大量的常用相位恢复算法,以方便实现一帧或多帧条纹图的相位解调。书中涉及的条纹图解调方法可用于:光学干涉法、阴影莫尔、条纹投影、光测弹性学、莫尔干涉术、莫尔偏折术、全息干涉法、剪切干涉法、数字全息法、散斑干涉法、角膜形貌法等光学测量技术。 |