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光学测量的条纹分析：理论、算法与应用 = Fringe pattern analysis for optical metrology：theory, algorithms, and applications

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Bibliographic Details
Main Authors: (墨) 塞尔文 Servin, M. (著); (西) 基罗加 Quiroga, J. A. (著); (墨) 帕迪利亚 Padilla, J. M. (著)
Group Author: 杜虎兵 1976.7- (译); 尹培丽 (译); 张嘉霖 (译); 何周旋 (译)
Published: 西安交通大学出版社
Publisher Address: 西安
Publication Dates: 2020
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
光学测量
Carrier Form: 249页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-5605-9292-3
Index Number: TB96
CLC: TB96
Call Number: TB96/3120
Contents: WILEY
本书介绍了现代光学测量技术中有关条纹分析的基本原理、基本方法以及近年来的创新工作。也为实验技术人员提供了大量的常用相位恢复算法，以方便实现一帧或多帧条纹图的相位解调。书中涉及的条纹图解调方法可用于：光学干涉法、阴影莫尔、条纹投影、光测弹性学、莫尔干涉术、莫尔偏折术、全息干涉法、剪切干涉法、数字全息法、散斑干涉法、角膜形貌法等光学测量技术。

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