公差配合与技术测量

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Bibliographic Details
Main Authors: 张淑娟 (张淑娟,张瑞珊主编); 张瑞珊
Published: 清华大学出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2018
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 161页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-302-48397-7
Index Number: TG801
CLC: TG801
Call Number: TG801/1234-1
Contents: 高职高专机电一体化专业规划教材
本书内容主要包括尺寸公差及配合、几何公差、表面粗糙度和测量、普通计量器具的选择和光滑极限量规、典型零件公差与检测、尺寸链基础。