Cover is for reference only

集成电路系统设计、验证与测试

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: 美 谢佛尔 Scheffer, Louis ((美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grant Martin著); 美 拉瓦尼奥 Lavagno, Luciano; 美 马丁 Martin, Grant
Group Author: 陈力颖 (译); 王猛 (译)
Published: 科学出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2008
Literature type: Book
Language: Chinese
Series: 集成电路EDA技术
Subjects:
集成电路 > 电路设计
Carrier Form: 14,475页: ; 26cm
ISBN: 978-7-03-021490-4
Index Number: TN402
CLC: TN402
Call Number: TN402/3722
Contents: 本书涵盖了IC设计过程和EDA，系统级设计方法与工具，系统级规范与建模语言，SoC的IP设计，MPSoC设计的性能验证方法，处理器建模与设计工具，嵌入式软件建模与设计等内容。

Related Book Recommendations