基于离子通道理论建模的可靠性分析及退化数据的统计分析

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Bibliographic Details
Main Authors: 张权 (著); 李明侠 (著)
Published: 哈尔滨工程大学出版社
Publisher Address: 哈尔滨
Publication Dates: 2022
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 173页: 图 ; 24cm
ISBN: 978-7-5661-3596-4
Index Number: Q241
CLC: Q241
Call Number: Q241/1249
Contents: 本书分两部分共8章,第1部分介绍了基于离子通道理论的可靠性分析,第2部分介绍了基于退化数据的可靠性分析及统计分析。8章内容包括离子通道理论与聚合随机过程、依据逗留时间分类的聚合随机模型状态指标分析、多状态聚合马尔可夫模型状态指标的分析、交替更新过程下可忽略工作时间和故障时间的聚合随机模型的研究、具有两个阈值限制的聚合随机模型指标的研究、基于性能退化数据的可靠性分析、基于小样本故障数据的可靠性建模与分析和基于定数截尾样本的高档数控机床的可靠性评估。