互换性与测量技术基础

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Bibliographic Details
Main Authors: 高丽 (高丽,于涛,杨俊茹主编); 于涛; 杨俊茹
Published: 北京理工大学出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2018
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 208页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-5682-5243-0
Index Number: TG801
CLC: TG801
Call Number: TG801/0212-1
Contents: 有书目
本书包括绪论,测量技术基础,孔、轴公差与配合及其尺寸检测,几何公差及其检测,表面粗糙度及其检测,滚动轴承与孔、轴结合的互换性,渐开线圆柱齿轮公差与检测,常用连接件的公差与检测,圆锥公差与检测,尺寸链等共10章。