抗辐射设计与辐射效应

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Bibliographic Details
Main Authors: 沈自才 (著); 丁义刚 (著)
Published: 中国科学技术出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2015
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 343页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-5046-6738-0
Index Number: TL7
CLC: TL7
Call Number: TL7/3124
Contents: 中国科协三峡科技出版资助计划
有书目和索引
作者从辐射环境、辐射效应、辐射损伤机制、辐照试验、辐射屏蔽、抗辐射设计方法、辐射加固保证等方面对抗辐射设计所涉及的内容进行阐述,对漆类材料、聚合物材料、光学材料、MOS工艺器件、二极管、双极晶体管、FPGA、CCD等典型材料与器件的辐射损伤机理和辐射效应数据进行梳理与总结。