光学光刻和极紫外光刻 = Optical and euv lithography: a modeling perspective

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: (德) 爱德曼 Erdmann, Andreas (著)
Group Author: 高伟民 (译); 徐东波 (译); 诸波尔 (译)
Published: 上海科学技术出版社
Publisher Address: 上海
Publication Dates: 2023
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 316页: 图 ; 24cm
ISBN: 978-7-5478-5720-5
Index Number: TN305
CLC: TN305.7
Call Number: TN305.7/2426
Contents: 元基石
有书目
本书是一本最新的光刻技术专著,内容涉及该领域各个重要方面。在介绍光刻技术应用上,作者涵盖了全面又丰富的内容。在论述光刻技术的物理机制和数学模型时,作者采用了完整但不繁琐的方法,增加了该书的可读性。该书在完整地解释了光学光刻技术的基本内容后,专门开辟章节,介绍了最先进的极紫外光刻技术的特点和难点,揭示了极紫外光刻的技术奥秘。