Screen Library纳米力学测试新方法：扫描探针声学显微术 = Nanomechnical testing method：atomic force acoustic microscopy
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| Main Authors: | ; ; |
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| Published: |
科学出版社
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| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2017 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 185页: 图，彩图 ; 24cm |
| ISBN: | 978-7-03-051576-6 |
| Index Number: | TB383 |
| CLC: | TB383.01 |
| Call Number: | TB383.01/4430 |
| Contents: |
国家科学技术学术著作出版基金资助出版 有书目和索引 本书的内容安排如下：第一章绪论简要介绍当前主要的纳米力学测试方法，以及AFAM的发展历史和研究现状。第二章首先对接触力学的基本理论进行介绍，随后介绍纳米压痕技术的测试原理和应用。第三章详细介绍原子力显微镜的基本原理和应用模式。第四章详细介绍AFAM的基本理论，定量化原理及两种基本成像模式。第五章给出了AFAM在测试和成像过程中涉及到的准确度和灵敏度问题，是对AFAM的深入研究。第六章介绍基于AFAM的材料粘弹性力学性能测试方法的原理及应用。第七章介绍AFAM在纳米科学技术各个领域的应用，主要涉及复合材料、智能材料和生物材料的微结构和微区弹性性质。第八章将介绍目前正在兴起的另一种纳米测试技术——多频原子力显微成像技术。 |