纳米力学测试新方法:扫描探针声学显微术 = Nanomechnical testing method:atomic force acoustic microscopy
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Published: |
科学出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2017 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 185页: 图,彩图 ; 24cm |
ISBN: | 978-7-03-051576-6 |
Index Number: | TB383 |
CLC: | TB383.01 |
Call Number: | TB383.01/4430 |
Contents: |
国家科学技术学术著作出版基金资助出版 有书目和索引 本书的内容安排如下:第一章绪论简要介绍当前主要的纳米力学测试方法,以及AFAM的发展历史和研究现状。第二章首先对接触力学的基本理论进行介绍,随后介绍纳米压痕技术的测试原理和应用。第三章详细介绍原子力显微镜的基本原理和应用模式。第四章详细介绍AFAM的基本理论,定量化原理及两种基本成像模式。第五章给出了AFAM在测试和成像过程中涉及到的准确度和灵敏度问题,是对AFAM的深入研究。第六章介绍基于AFAM的材料粘弹性力学性能测试方法的原理及应用。第七章介绍AFAM在纳米科学技术各个领域的应用,主要涉及复合材料、智能材料和生物材料的微结构和微区弹性性质。第八章将介绍目前正在兴起的另一种纳米测试技术——多频原子力显微成像技术。 |