X射线荧光光谱分析 = X-ray fluorescence spectrometry

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Bibliographic Details
Main Authors: 罗立强 (编著); 詹秀春 (编著); 李国会 (编著)
Published: 化学工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2023
Literature type: Book
Language: Chinese
Edition: 3版
Subjects:
Carrier Form: 328页: 图,照片 ; 24cm
ISBN: 978-7-122-43039-7
Index Number: O657
CLC: O657.34
Call Number: O657.34/6201-1
Contents: 本书阐述了X射线荧光光谱(XRFS)和X射线吸收光谱(XAS)分析基本原理,描述了XRFS光谱仪主要组件与功能,介绍了XRFS定性与定量分析方法、元素基体校正理论模型和算法、样品制备技术、仪器基本特性和仪器日常维护技术。同时,还根据XRFS的发展,介绍了μ子X射线光谱、同步辐射与微区X射线光谱分析原理与应用,强调了X射线光谱分析技术在解决重大科学问题中的支撑作用,并给出了其在生态与环境、地质、冶金、半导体材料、生物、考古等领域的研究进展与应用实例。