现代测试系统

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Bibliographic Details
Main Authors: 刘文彦; 周学平; 刘辉
Published: 国防科技大学出版社
Publisher Address: 长沙
Publication Dates: 1995
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 308页: 图 ; 26cm
ISBN: 7-81024-351-9
Index Number: TP274
CLC: TP274
Call Number: TP274/0400
Contents: 附: 1. GP-IB接口功能子集表, 2. GP-IB英文缩写索引, 3. 集成电路符号对照, 4. 参考文献