太赫兹光电测试技术 = Terahertz photoelectric measurement technology
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Published: |
华东理工大学出版社有限公司
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Publisher Address: | 上海 |
Publication Dates: | 2020 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 254页: 图 ; 25cm |
ISBN: | 978-7-5628-6102-7 |
Index Number: | O441 |
CLC: |
O441.4 TN206 |
Call Number: | O441.4/3781 |
Contents: |
战略前沿新技术—太赫兹出版工程 9 上海出版资金项目 有书目和索引 本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发,介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点,阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点,最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。 |