太赫兹光电测试技术 = Terahertz photoelectric measurement technology

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Bibliographic Details
Main Authors: 谭智勇 (著); 曹俊诚 (著)
Published: 华东理工大学出版社有限公司
Publisher Address: 上海
Publication Dates: 2020
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 254页: 图 ; 25cm
ISBN: 978-7-5628-6102-7
Index Number: O441
CLC: O441.4
TN206
Call Number: O441.4/3781
Contents: 战略前沿新技术—太赫兹出版工程 9 上海出版资金项目
有书目和索引
本书主要从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发,介绍了太赫兹频段辐射源、探测器及探测技术的基本概念和特点,阐述了太赫兹光电测试技术中所涉及的基本理论、测试原理与方法、测试系统组成和主要技术特点,最后介绍了太赫兹光电测试技术在光电器件标定、光路校准、成像系统与信号传输系统中的应用。