透射电子显微学. 下册

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Bibliographic Details
Main Authors: 美 威廉斯 Williams, David B. (David B. Williams,C. Barry Carter著); 美 卡特 Carter, C. Barry
Group Author: 李建奇 (译)
Published: 高等教育出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2019
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 649页: 图 ; 24cm
ISBN: 978-7-04-052413-0
Index Number: O766
CLC: O766
Call Number: TN16/5204#2
Contents: 材料科学经典著作选译
本书为透射电子显微学下册,内容包括第三章及第四章,第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术,以及对实验图像的处理、分析和理论模拟;第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用,以及与之相关的各种实验技术。
Note: 英文共同题名:Transmission electron microscopy