透射电子显微学. 下册
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Group Author: | |
Published: |
高等教育出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2019 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 649页: 图 ; 24cm |
ISBN: | 978-7-04-052413-0 |
Index Number: | O766 |
CLC: | O766 |
Call Number: | TN16/5204#2 |
Contents: |
材料科学经典著作选译 本书为透射电子显微学下册,内容包括第三章及第四章,第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术,以及对实验图像的处理、分析和理论模拟;第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用,以及与之相关的各种实验技术。 |
Note: | 英文共同题名:Transmission electron microscopy |