光电子器件微波封装和测试

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Bibliographic Details
Main Authors: 祝宁华 (祝宁华著)
Published: 科学出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2011
Literature type: Book
Language: Chinese
Edition: 2版
Series: 半导体科学与技术丛书
Subjects:
Carrier Form: 17,433页: 图 ; 25cm
ISBN: 978-7-03-033004-8
Index Number: TN15
CLC: TN15
Call Number: TN15/3232-1
Contents: 本书内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计,网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法,数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法,光电子器件本征响应特性分析和应用,光谱与频谱分析技术,光注入技术及其应用。