Screen Library工业芯片可靠性设计
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| Main Authors: | |
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| Published: |
西安电子科技大学出版社
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| Publisher Address: | 西安 |
| Publication Dates: | 2023 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 367页: 图 ; 26cm |
| ISBN: | 978-7-5606-6710-2 |
| Index Number: | TM215 |
| CLC: | TM215 |
| Call Number: | TM215/4845 |
| Contents: |
国家重点研发计划支持项目 本书共6章，针对工业芯片在使用环境复杂性和内部结构多样性方面的特点，介绍了其片上可靠性防护的基本原理和工程化设计技术，重点介绍了应对静电与闩锁等电过应力的防护器件、防护电路和防护架构以及针对RF CMOS、功率芯片和异质集成电路等的专用防护方法，还介绍了纳米CMOS器件可靠性模型与仿真。 |
| Note: | 北京智芯微电子科技有限公司组编 |