表面分析(XPS和AES)引论 = An Introduction to Surface Analysis By XPS and AES
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Main Authors: | ; |
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Group Author: | |
Published: |
华东理工大学出版社
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Publisher Address: | 上海 |
Publication Dates: | 2008 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Series: |
当代材料学与工程译丛 |
Subjects: | |
Carrier Form: | 144页: ; 24cm |
ISBN: | 978-7-5628-2226-4 |
Index Number: | O655 |
CLC: | O655.9 |
Call Number: | O655.9/3141 |
Contents: | 本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积XPS(SAXPS)、成像XPS、XPS深度剖析、场发射AES/SAM等功能的分析技术、以及在冶金、腐蚀、陶瓷、催化剂、微电子半导体材料等领域中的应用。 |