技术与风险

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Bibliographic Details
Main Authors: 美 刘易斯 H.W. ((美)H.W.刘易斯著); 美 Lewis H.W.
Group Author: 杨健 (译); 缪建兴 (译)
Published: 中国对外翻译出版公司 1997重印
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 1994 1997重印
Literature type: Book
Language: Chinese
Series: 科学与人译丛. 第1辑
Subjects:
Carrier Form: 256页: ; 20cm
ISBN: 7-5001-0282-8
Index Number: N49
CLC: N49
Call Number: N49/0464
Note: 书名原文:Technological Risk