计算机测试与控制技术

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Bibliographic Details
Main Authors: 李行善 (编著); 于劲松 (编著)
Published: 北京航空航天大学出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2019
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 575页: 图 ; 24cm
ISBN: 978-7-5124-3005-1
Index Number: TP306
CLC: TP306
TP273
Call Number: TP306/4428-1
Contents: 有书目
“计算机测试与控制技术”综合了传感器、信号调理、微型计算机原理与接口、数字信号处理、控制理论、模式识别等多学科理论与技术,是一门具有较强工程应用背景的专业课程。本书从工程应用的角度研究计算机测试与控制所涉及的理论与方法,使读者全面、系统地了解和掌握计算机测控工程系统的设计与实现方法。本书将计算机测控系统所涉及的共性问题,如计算机接口技术、测控总线技术、常用测控算法、软硬件抗干扰技术、测控系统的设计方法等归纳编写成独立章节进行讲述,便于读者根据实际工程需要有针对性地学习。