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先进集成电路电磁兼容测试与建模

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Bibliographic Details
Main Authors: (法) 博耶 Boyer, Alexandre ((法)亚历山大·博耶(Alexandre Boyer)，(法)艾·西加(Etienne Sicard)著); (法) 西加 Sicard, Etienne
Group Author: 吴建飞 (译); 李彬鸿 (译); 王蒙军 (译); 郑亦菲 (译)
Published: 国防工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2022
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
集成电路 > 电磁兼容 > 测试
集成电路 > 电磁兼容 > 系统建模
Carrier Form: 16,314页: 图 ; 27cm
ISBN: 978-7-118-12607-5
Index Number: TN402
CLC: TN402
Call Number: TN402/4014
Contents: 装备科技译著出版基金
有书目
本书内容涵盖了学习如何在发射、抗扰度和信号完整性问题方面对电路及其周围环境(PCB)进行建模的基本概念，并结合IC-EMC仿真软件的实际案例来阐述理论概念及原理。
Note: 译者还有：李彬鸿、王蒙军、郑亦菲

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