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机载典型电子元器件热带海洋环境腐蚀行为与机理研究

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Bibliographic Details
Main Authors: 郁大照 (著); 王希彬 (著); 王琳 (著); 胡家林 (著)
Published: 北京航空航天大学出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2023
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
航空电气设备 > 电子元器件 > 海洋环境 > 腐蚀机理 > 研究
Carrier Form: 137页: 图，照片 ; 24cm
ISBN: 978-7-5124-3996-2
Index Number: V242
CLC: V242
Call Number: V242/4246
Contents: 本书对机载典型电子元器件热带海洋环境腐蚀行为与机理进行了研究，主要内容包括：机载典型电子元器件故障分析、机载典型电子元器件腐蚀加速试验方法、机载典型电子元器件热带海洋环境对比试验、机载电子元器件腐蚀仿真分析、外部防护产品的防腐效应试验与效果分析及机载电子元器件腐蚀防护策略等。
Note: 著者还有：王希彬，王琳，胡家林、刘琦

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