集成电路系统设计、验证与测试

Main Authors: 美 谢佛尔 Scheffer, Louis ((美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grant Martin著); 美 拉瓦尼奥 Lavagno, Luciano; 美 马丁 Martin, Grant
Group Author: 陈力颖 (译); 王猛 (译)
Published: 科学出版社
Publication Dates: 2008
Call Number: TN402/3722