数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计 = Design-for-Test for Digital IC's and Embedded Core System

Main Authors: 美 克拉茨 A.L Crouch, Alfred L. ((美)Alfred L.Crouch著)
Group Author: 何虎 (译); 马立伟 (译)
Published: 机械工业出版社
Publication Dates: 2006
Call Number: TN431.2/4254