Screen Library集成电路测试基础
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| Main Authors: | |
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| Corporate Authors: | |
| Published: |
电子工业出版社
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| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2022 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Series: |
集成电路产业知识赋能工程系列丛书 |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 10,320页: 图，照片 ; 26cm |
| ISBN: | 978-7-121-43802-8 |
| Index Number: | TN407 |
| CLC: | TN407 |
| Call Number: | TN407/8602 |
| Contents: | 本书共分为15章，内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制，模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 |