现代集成电路测试技术
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Main Authors: | |
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Published: |
化学工业出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2006 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 540页: 图 ; 26cm |
ISBN: | 7-5025-8131-6 |
Index Number: | TN407 |
CLC: | TN407 |
Call Number: | TN407/6015 |
Contents: | 本书主要介绍了数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、数字/模拟/数模信号三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证等内容。 |