现代集成电路测试技术

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Bibliographic Details
Main Authors: 时万春 (《现代集成电路测试技术》编写组[编])
Published: 化学工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2006
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 540页: 图 ; 26cm
ISBN: 7-5025-8131-6
Index Number: TN407
CLC: TN407
Call Number: TN407/6015
Contents: 本书主要介绍了数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、数字/模拟/数模信号三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证等内容。