图解入门——半导体器件缺陷与失效分析技术精讲
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Main Authors: | ; |
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Group Author: | ; |
Published: |
机械工业出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2024 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Series: |
集成电路科学与技术丛书 |
Subjects: | |
Carrier Form: | 159页: ; 24cm |
ISBN: | 978-7-111-74962-2 |
Index Number: | TN305 |
CLC: | TN305-64 |
Call Number: | TN305-64/2162 |
Contents: |
机工通信 有书目 本书共分为四章,内容包括:半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。 |