Cover is for reference only

Please scan the QR code to borrow online

芯片接口库I/O Library和ESD电路的研发设计应用

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: 王国立 (王国立著)
Published: 人民邮电出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2018
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 185页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-115-48706-3
Index Number: TN430
CLC: TN430.2
Call Number: TN430.2/1160
Contents: 本书理论和实践相结合,首先概略介绍了I/O Library,包括I/O Library在芯片设计中的功能、设计流程等;接着介绍了I/O电路中的ESD现象、ESD的测试方法和多种ESD保护功能模块的设计;然后着重讲解闩锁现象、GPIO的功能电路以及高速I/O电路的电路补偿方法等;最后展望了I/O Library的未来发展。