电子系统小子样试验理论方法
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Main Authors: | ; ; ; |
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Published: |
国防工业出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2003 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 214页: ; 20cm |
ISBN: | 7-118-03092-9 |
Index Number: | TN103 |
CLC: | TN103 |
Call Number: | TN103/1161 |
Contents: | 本书内容包括:概率论和数理统计的基本理论及电子系统试验密切相关的概率分布及其特性;电子系统试验中现用的数据处理方法及其存在的弊端;Bayes理论的基本内容及其在国防科技领域中的典型应用等。 |