电子系统小子样试验理论方法

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Bibliographic Details
Main Authors: 王国玉 (著); 申绪涧 (著); 汪连栋 (著); 戚宗锋 (著)
Published: 国防工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2003
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
Carrier Form: 214页: ; 20cm
ISBN: 7-118-03092-9
Index Number: TN103
CLC: TN103
Call Number: TN103/1161
Contents: 本书内容包括:概率论和数理统计的基本理论及电子系统试验密切相关的概率分布及其特性;电子系统试验中现用的数据处理方法及其存在的弊端;Bayes理论的基本内容及其在国防科技领域中的典型应用等。