Screen Library半导体器件电离辐射总剂量效应
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| Main Authors: | ; ; ; |
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| Published: |
科学出版社
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| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2022 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Series: |
辐射环境模拟与效应丛书 |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 226页: 图 ; 24cm |
| ISBN: | 978-7-03-070039-1 |
| Index Number: | TN303 |
| CLC: | TN303 |
| Call Number: | TN303/7222 |
| Contents: | 本书主要介绍空间辐射环境与效应、体硅CMOS器件电离辐射总剂量效应、双极器件电离辐射总剂量效应、SOI器件电离辐射总剂量效应、电离辐射总剂量效应模拟试验方法、MOS器件电离辐射总剂量效应预估、纳米器件电离辐射总剂量效应与可靠性、系统级电离辐射总剂量效应等内容。 |
| Note: | 编著者还有：何宝平，姚志斌，马武英 |