瞬时电离辐射效应
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Main Authors: | ; ; ; |
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Published: |
科学出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2023 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Series: |
辐射环境模拟与效应丛书 |
Subjects: | |
Carrier Form: | 208页: 图 ; 24cm |
ISBN: | 978-7-03-074044-1 |
Index Number: | O644 |
CLC: | O644.2 |
Call Number: | O644.2/7222 |
Contents: |
国家科学技术学术著作出版基金资助出版 本书介绍核爆炸辐射环境及其效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、样本空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用等内容。 |
Note: | 著者还有:王桂珍,李瑞宾,白小燕,齐超、李俊霖 |