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伪集成电路检测与防护 = Counterfeit integrated circuits：detection and avoidance

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Bibliographic Details
Main Authors: (美) 德黑兰尼普尔 Tehranipoor, Mark Mohammad ((美)马克(默罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark( Mohammad)Tehranipoor)，乌杰瓦尔·吉恩，多梅尼克·福特(Ujjwal Guin，Domenic Forte)著); (美) 吉恩 Guin, Ujjwal; (美) 福特 Forte, Domenic
Group Author: 李雄伟 (译); 张阳 (译); 陈开颜 (译); 谢方方 (译)
Published: 国防工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2022
Literature type: Book
Language: Chinese
Subjects:
集成电路 > 检测
Carrier Form: 20,227页: 图 ; 25cm
ISBN: 978-7-118-12500-9
Index Number: TN407
CLC: TN407
Call Number: TN407/2268
Contents: 装备科技译著出版基金 Springer
有书目
本书面向伪电子元件领域的初学者和专家，全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题，可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室，以及学术界提供必需的路线图。
Note: 题名页题其他次要责任者：张阳, 陈开颜, 谢方方, 李艳

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