光学测量的条纹分析：理论、算法与应用 = Fringe pattern analysis for optical metrology：theory, algorithms, and applications

Main Authors: (墨) 塞尔文 Servin, M. (著); (西) 基罗加 Quiroga, J. A. (著); (墨) 帕迪利亚 Padilla, J. M. (著)
Group Author: 杜虎兵 1976.7- (译); 尹培丽 (译); 张嘉霖 (译); 何周旋 (译)
Published: 西安交通大学出版社
Publication Dates: 2020
Call Number: TB96/3120