Screen Library纳米级系统芯片单粒子效应研究
Saved in:
| Main Authors: | ; ; ; |
|---|---|
| Published: |
科学出版社
|
| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2021 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 191页: 图 ; 24cm |
| ISBN: | 978-7-03-067328-2 |
| Index Number: | TN430 |
| CLC: | TN430.3 |
| Call Number: | TN430.3/4848 |
| Contents: |
有书目(第181-191页) 本书主要介绍28nm系统芯片（SoC）的单粒子效应，内容包括SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的a粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SC抗单粒子效应软件加固方法研究；提出XilinxZyng-7000SoC单粒子效应错误类型和单粒子效应规律；计算不同模块的单粒子效应截面和软错误率；揭示SoC的单粒子效应敏感模块和敏感区域分布特征定量分析SC系统、子系统和不同模块的故障频率、不可用度和平均故障间隔时间；提出几种SoC单粒子效应加固方法，并进行实验验证。 |
| Note: | 著者还有：杜雪成、杨卫涛、杜小智 |