Screen Library纳米级系统芯片单粒子效应研究
Saved in:
| Main Authors: | ; ; ; |
|---|---|
| Published: |
科学出版社
|
| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2021 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 191页: 图 ; 24cm |
| ISBN: | 978-7-03-067328-2 |
| Index Number: | TN430 |
| CLC: | TN430.3 |
| Call Number: | TN430.3/4848 |
| Contents: |
有书目(第181-191页) 本书主要介绍28nm系统芯片（SoC）的单粒子效应，内容包括SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制，SoC的a粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，SoC单粒子效应软件故障注入、模拟 |
| Note: | 著者还有：杜雪成、杨卫涛、杜小智 |