Screen Library嵌入式系统中的辐射效应 = Radiation effects on embedded systems
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| Published: |
机械工业出版社
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| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2018 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Series: |
国际电气工程先进技术译丛 |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 11,234页: 图 ; 24cm |
| ISBN: | 978-7-111-58286-1 |
| Index Number: | TP360 |
| CLC: | TP360.21 |
| Call Number: | TP360.21/2458 |
| Contents: | 本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。 |