集成电路高可靠封装技术

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Bibliographic Details
Main Authors: 赵鹤然 (赵鹤然主编)
Published: 机械工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2022
Literature type: Book
Language: Chinese
Series: 半导体与集成电路关键技术丛书
Subjects:
Carrier Form: 14,240页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-111-70122-4
Index Number: TN405
CLC: TN405
Call Number: TN405/4842
Contents: 有书目
本书应用理论和实际经验并重,共分为5章:第1章概括介绍了集成电路高可靠封装体系框架;之后四章详细讲解了划片、粘片、引线键合和密封四大工序,每章都介绍相应工序的基本概念,并将该工序的重点内容、行业内关注的热点、常见的失效问题及产生机理,按照小节逐一展开。