Screen Library碳化硅功率器件：特性、测试和应用技术
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| Main Authors: | ; |
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| Published: |
机械工业出版社
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| Publisher Address: | 北京 |
| Publication Dates: | 2021 |
| Literature type: | Book |
| Language: | Chinese |
| Subjects: | |
| Carrier Form: | 14,311页: 图 ; 24cm |
| ISBN: | 978-7-111-68175-5 |
| Index Number: | TN303 |
| CLC: | TN303 |
| Call Number: | TN303/0233-1 |
| Contents: |
电力电子新技术系列图书 有书目 本书介绍了碳化硅功率器件的基本原理、特性、测试方法及应用技术，概括了近年学术界和工业界的*新研究成果。本书共分为9章：功率半导体器件基础，SiCMOSFET参数的解读、测试及应用，双脉冲测试技术，SiC器件与Si器件特性对比，高di/dt的影响与应对——关断电压过冲，高dv/dt的影响与应对——crosstalk，高dv/dt的影响与应对——共模电流，共源极电感的影响与应对，以及驱动电路设计。 |