MEMS可靠性 = MEMS reliability
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Group Author: | ; ; |
Published: |
电子工业出版社
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Publisher Address: | 北京 |
Publication Dates: | 2012 |
Literature type: | Book |
Language: | Chinese |
Subjects: | |
Carrier Form: | 13,220页: 图 ; 26cm |
ISBN: | 978-7-121-18805-3 |
Index Number: | TN4 |
CLC: | TN4 |
Call Number: | TN4/6082 |
Contents: |
国外电子与通信教材系列 本书是关于MEMS可靠性的一本专著,主要内容包括:用于寿命预测的可靠性统计理论,MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式,MEMS在使用中的失效模式,MEMS的失效根源及分析,MEMS的试验和鉴定标准,以及提升MEMS可靠性的工具和技术。 |