集成电路先进封装工艺:Cu-Cu键合技术 = Advanced packaging process for integrated circuits:Cu-Cu bonding technology

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: 史铁林 (1964-) (史铁林[等]著)
Published: 高等教育出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2022
Literature type: Book
Language: Chinese
Series: 先进制造科学与技术丛书
Subjects:
Carrier Form: 187页: 图 ; 26cm
ISBN: 978-7-04-057636-8
Index Number: TN405
CLC: TN405
Call Number: TN405/5084
Contents: 机械工程前沿著作系列 国家科学技术学术著作出版基金资助出版
本书系统介绍了国内外Cu-Cu键合技术的研究现状,结合作者及课题组全体研究人员长期在微电子封装领域的研究积累,梳理了基于表面活化的Cu-Cu键合、基于金属纳米焊料的Cu-Cu、基于自蔓延反应放热的Cu-Cu键合以及先进键合技术在Cu凸点互连中的应用等多个热点研究内容,并在实验方法、工艺优化、理论研究等多个方面进行了深入探讨。
Note: 著者还有:李俊杰、汤自荣、廖广兰