碳化硅器件工艺核心技术

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Bibliographic Details
Main Authors: (希) 泽肯特斯 Zekentes, Konstantinos (著); (英) 瓦西列夫斯基 Vasilevskiy, Konstantin (著)
Group Author: 贾护军 (译); 段宝兴 (译); 单光宝 (译)
Published: 机械工业出版社
Publisher Address: 北京
Publication Dates: 2024
Literature type: Book
Language: Chinese
Series: 半导体与集成电路关键技术丛书
Subjects:
Carrier Form: 16,411页: 图,照片 ; 24cm
ISBN: 978-7-111-74188-6
Index Number: TN303
CLC: TN303
Call Number: TN303/3122
Contents: 机工电子
版权页英文题名:Advancing silicon carbide electronics technology
本书共9章,以碳化硅(SiC)器件工艺为核心,重点介绍了SiC材料生长、表面清洗、欧姆接触、肖特基接触、离子注入、干法刻蚀、电解质制备等关键工艺技术,以及高功率SiC单极和双极开关器件、SiC纳米结构的制造和器件集成等,每一部分都涵盖了上百篇相关文献,以反映这些方面的最新成果和发展趋势。